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SEM test: un sistema unico di analisi e indagine

Il sistema d’analisi tramite SEM (Scanning Electron Microscope / Microscopio Elettronico a Scansione) viene di norma utilizzato in maniera estremamente efficace nel campo della microscopia e dell’analisi elementare.

Lo strumento è in grado di generare immagini ad alta risoluzione misurando con infallibile precisione aspetti e caratteristiche infinitesimali di oggetti organici e inorganici.

Il microscopio a scansione utilizza un fascio focalizzato di elettroni ad alta energia che consente di ottenere un’ampia varietà d’informazioni relativamente alla superficie del campione preso in esame.
Nella maggior parte delle applicazioni di microscopia SEM vengono raccolti i dati di una superficie attraverso la generazione di un’immagine bidimensionale (o tridimensionale) che ne mostra le proprietà, incluse le caratteristiche strutturali, il tipo di texture e l’orientamento dei materiali.
Questo tipo di apparecchio, se dotato di microanalisi (spettro EDS) è specialmente utile nel determinare le composizioni chimiche sul piano qualitativo o quantitativo.

Nel campo ceramico, l’utilizzo del SEM consente di entrare nella materia visualizzandone la struttura superficiale e tridimensionale e analizzare gli elementi costitutivi all’interno di zone o aree puntuali infinitamente piccole.
In questo modo è possibile ipotizzare o determinare l’origine di difettologie superficiali o, ad esempio, stati solidi differenti dallo smalto.



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