Azioni:

#01. Prelievo campione da essiccatore sottovuoto
#02. Frammentazione componente solida
#03. Posizionamento campione su STUB
#04. Inserimento all’interno della camera
#05. Acquisizione e messa a fuoco dell’immagine
#06. Analisi composizione del campione

Il termine SEM è l’acronimo per Microscopio a Scansione Elettronica. Si tratta di uno trumento ad alta tecnologia che, diversamente dal microscopio ottico, anziché sfruttare la luce come sorgente di radiazioni utilizza elettroni.
Questa diversa sorgente, oltre a restituire un’altissima risoluzione dell’immagine, produce un significativo vantaggio: l’analisi non si limita ad approfondire il COSA ma entra nel merito del COME. L’uso di elettroni produce infatti una serie di fenomeni fisici che possono essere sfruttati non solo per vedere la superficie ma anche per comprenderne la composizione nel dettaglio.

Un fascio di elettroni viene estratto dalla sorgente, collimato e accelerato dal sistema di lenti elettromagnetiche del microscopio elettronico verso la superficie che è oggetto d’analisi. Gli elettroni così accelerati interagiscono con il primo sottilissimo strato della materia del campione, il quale a sua volta emetterà altri elettroni che veicoleranno le informazioni su cui si sta indagando.

In ceramica, a solo titolo di esempio, il SEM è molto sfruttato per analizzare difetti (spillature, ribolliture, cuore nero, etc.), verificare la composizione di un composto, evidenziare la presenza di elementi estranei, indirizzare la corretta additivazione di un sistema, etc. etc. La restituzione di un corposo numero informazioni è funzionale alla risoluzione di molteplici criticità che possono compromettere prodotti e processi.

NOTA – Il campione, una volta preparato, viene posizionato su di uno STUB di alluminio ricoperto da un adesivo in carbonio e poi introdotto all’interno dalla camera di cui il microscopio e dotato.